牛津仪器推出手持式硅漂移探测器X射线荧光分析仪

　　  新的  X  射线荧光  (XRF)  分析仪  X-MET5100  将手持式仪器的分析性能提高到全新水平。 
 
  　　X-MET5100  将牛津仪器的硅漂移探测器  (SDD)  和强大的  45  千伏  X  射线管结合起来，显示了仪器设计上的革命性突破。这种技术提供了快速、高精度的测量，并且无需借助复杂的真空泵或氦气罐等附属设备就可以对镁、铝、硅等轻元素进行测量，这实在是手持式  X  射线荧光  (XRF)  分析的一大飞跃。 
 
  　　PMI  检测行业、废旧金属回收行业、特别是航空工业终于拥有了他们一直期待的坚固的便携式  XRF  轻元素测试工具。X-MET5100  保证了铝及钛合金的实验室质量分析的性，它对检测铜、镍和钢等金属材料中含有的轻金属元素时的敏感性也是的。 
 
  　　硅漂移探测器  (SDD)、45  千伏  X  射线管和经验系数分析方法的强大结合，意味着  X-MET5100  可以在短短  1  秒钟内，准确地分析和确定金属合金成分。受限物质（重金属元素）、玩具中的铅、土壤中的污染物和矿石中的微量物质可以得到准确测量，其速度之快，在从前是*可能的。在几秒钟之内，就可以得到  ppm  级的痕量元素检测结果。X-MET5100  的速度和准确性确保了可靠的实时检测结果。 
 
  　　X-MET5100  是牛津仪器用于日常多元素分析的  X-MET5000  的升级产品，后者于今年早些时候成功推出。这两款仪器都符合  IP54  (NEMA  3)  防尘防水认证要求，能够承受zui苛刻的工作条件。 
 
  　　X-MET5100  已于  9  月在拉斯维加斯钛展览会和埃森世界铝贸易博览会上成功展出。预计将于2008  年11  月11  日至13  日在北京会议中心举行的2008（第五届）  矿业博览会上在展出。 
 
 

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